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Details

Darstellung elektrischer Funktionen einer integrierten Schaltung im Raster-Elektronenmikroskop   [Other Title]

Use of Scanning Electron Microscope for Representation of Electrical Processes in an Integrated Circuit   [Title Translation]
Year of origin: 1977
Genre: Documentary Film
Locations of shooting: n/a

Credits
Production company: Siemens AG, Zentrale Forschung und Entwicklung, Forschungslaboratorien (München
  IWF (Göttingen)
First released by: IWF (Göttingen)
Distributor: IWF (Göttingen)
Producer: Günter Hummel
Author: Johann Otte
  Hans Rehme
  Eckhard Wolfgang


Keywords: Halbleiter, integrierte, Integrierter Schaltkreis, Schaltung, integrated circuit, semiconductor
An einer integrierten Schaltung für die Nachrichtenvermittlungstechnik werden verschiedene elektrische Funktionsabläufe gezeigt: Arbeitstaktzuführung, Dateneingabe, Speicheradressierung und Speicherfunktionen. REM-Aufnahmen nach dem Potentialkontrastverfahren.

Version 1
Language: deu, eng
Sound: Sound film
Aspect: n/a
Duration: 7 1/2 min

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Copyright Information IWF Institut Wissen und Medien gGmbH


Version 2
Language: deu, eng
Sound: Sound film
Aspect: n/a
Duration: 7 1/2 min

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Version 3
Language: deu, eng
Sound: Sound film
Aspect: n/a
Duration: 7 1/2 min

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